Рефлектрон RTF50
Рефлектрон RFT50 c ионизацией электронным импульсом, ионный источник установлен на фланце с противоположной стороны крепежного фланца рефлектрона, второй детектор с 20 кВ пост-ускорения позади зеркала ионов.
Биполярный рефлектрон RFT50 с ионным источником для лазерной ионизации |
Наша модель RFT50 время пролетного масс-спектрометра оптимизирована для массового анализа ионов с массой> 100 000 а.е.м.. В этой модели используется детектор с 20 кВ пост-ускорения для эффективного обнаружения тяжелых частиц. Спектрометр может быть оснащен различными источниками ионов в зависимости от использованной схемы ионизации:
- ионизация электронным импульсом различных видов газовой фазы
- лазерная ионизация, ВУФ ионизация,
- лазерная десорбция и абляции от твердых и жидких поверхностей и малых частиц (аэрозоли, сажа)
- напыление поверхностей (SIMS)
Конструктивные особенности:
- двухступенчатое ионное зеркало
- большой двухступенчатой микроканальный детектор (диаметр 40 мм) с 20 кВ пост-ускорения для эффективного обнаружения тяжелых частиц
- временная разрешающая способность T/deltaT до 10 000 (массой 130)
- ионизация электронным импульсом с электронным лучом магнитного наведения, скорость развертки до 10 кГц
- пакет программного обеспечения на основе MS-Windows для меню управления спектрометром (ионизация электронным импульсом)
- УКВ-совместимая установка (о-кольцо уплотнения фланцев по запросу)
Геометрические данные
- общая длина приблизительно 950 мм
- область пространства свободного дрейфа приблизительно 1000 мм
- соединение фланцев CF150 (внеш. диам. 8 дюймов) или CF100 (внеш. диам. 6 дюймов)
- труба (диаметр 200 мм) с фланцем насоса CF100 (внеш. диам. 6 дюймов) и фланец манометра CF40 (внеш. диам. 2.75 дюйма)
Дополнительные функции:
- анализ массы отрицательных ионов
- детектор с расширенным динамическим диапазоном, чтобы избежать насыщение детектора используют интенсивные пики массы или высокую скорость развертки
- трехступенчатый МСР детектор для замеров низких сигналов
- дополнительный детектор позади ионного зеркала
- двухпроводная линия входа ионов, чтобы удалить нежелательные ионы из извлеченного ионного пучка, расположенного в Wiley-McLaren режиме времени двухступенчатого ионного ист источника
Возможности ионных источников:
- двухпроводная линия входа ионов, чтобы удалить нежелательные ионы из извлеченного ионного пучка, расположенного в Wiley-McLaren режиме времени двухступенчатого ионного источника
Возможности ионных источников:
- для ионизации электронным импульсом, лазерной ионизации, лазерной десорбции и лазерной абляции, аэрозольной спектроскопии
Примеры RFT50 ионных источников:
- ионный источник для ионизации электронным импульсом, электронный луч магнитного наведения
- ионный источник для ионизации электронным импульсом с CF100 (внеш. диам. 6 дюймов) фланцем, установленном на противоположной стороне по отношению к фланцу рефлектрона
- источник ионов для лазерной ионизации тяжелых кластеров, движение перпендикулярно оси TOF