Микроскоп Agilent 5420 AFM
Микроскоп Agilent 5420 AFM гарантирует низкий уровень шума, высокую производительность и уникальную гибкость применения. Благодаря новому эргономичному дизайну и улучшенной электронике, научно-исследовательский микроскоп Agilent 5420 AFM обеспечивает атомарное разрешение и обладает привлекательной ценой. Agilent 5420 AFM позволяет проводить методики электрических измерений одновременно с построением топографии поверхности для микроскопии Кельвина и электрической силы, также, данный микроскоп совместим с опцией сканирующей микроволновой микроскопии (СММ).
Достоинства:
Научно-исследовательский микроскоп, обеспечивающий атомарное разрешение
Возможность модернизации
Открытая конструкция гарантирует легкое и удобное использование
Новая электроника и методики измерений
Области применения:
Материалы для электроники
Материаловедение
Измерения параметров поверхности
Обучение