UHV SYSTEM PV080 - Сверхвысоковакуумная система PV080
Описание
Многокамерная сверхвысоковакуумная система предназначена для подготовки тонких слоев и комплексного анализа поверхностей твердых образцов (кристаллографические и электронные структуры) методом сканирующей зондовой микроскопии (SPM, SPS) и другими методами исследования. Камера оснащена 7 источниками, RHEED и ионным источником. Аналитическая камера оборудована XPS анализатором, работающим с рентгеновским, ионным и электронным источниками.
Спецификации
Система предназначена для:
- Генерирования наноструктур, тонких слоев, магнитных ламинарных структур и гетероструктур (ферромагнетик/полупроводник) методом эпитаксиального выращивания;
- Исследования характеристик полученных наноструктур магнитным, XPS и SMP методами.
- Измерение поверхностной плотности электронных состояний тонких пленок и магнитных гетероструктур
- Анализ поверхностных электронных состояний методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)