UHV SYSTEM PV080 - Сверхвысоковакуумная система PV080

Prevac_080_view

Описание

Многокамерная сверхвысоковакуумная система предназначена для подготовки тонких слоев и комплексного анализа поверхностей твердых образцов (кристаллографические и электронные структуры) методом сканирующей зондовой микроскопии (SPM, SPS) и другими методами исследования. Камера оснащена 7 источниками, RHEED и ионным источником. Аналитическая камера оборудована XPS анализатором, работающим с рентгеновским, ионным и электронным источниками.

Спецификации

Система предназначена для:

  • Генерирования наноструктур, тонких слоев, магнитных ламинарных структур и гетероструктур (ферромагнетик/полупроводник)  методом эпитаксиального выращивания;
  • Исследования характеристик полученных наноструктур магнитным, XPS и SMP методами.
  • Измерение поверхностной плотности электронных состояний тонких пленок и магнитных гетероструктур
  • Анализ поверхностных электронных состояний методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)