Agilent 8500 FE-SEM

Высокопроизводительный, компактный микроскоп для получения изображений низкого напряжения.

Особенности и достоинства

Разрешение изображений соответствует предыдущим моделям FE-SEM.

Регулируемое низкое напряжение устраняет необходимость подзарядки и нанесения покрытия на образец.

Настраиваемая по осям X Y Z платформа позволяет пользователю устанавливать точные координаты, сканировать и сохранять данные.

Миниатюрный электростатический  объектив позволяет проводить наблюдения без постоянной перенастройки.

Компактный размер устройства обуславливает легкую установку в любых исследовательских лабораториях, не требуя специальной подготовки помещения.

Применяется в изучении:

Полимеров

Тонких пленок

Биоматериалов

Непроводящих образцов

Объектов, чувствительных к излучению

Стеклянных  субстратов

Обзор

Новый микроскоп Agilent 8500 FE-SEM позволяет исследователям иметь полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп прямо в собственной лаборатории. Это компактное инновационное устройство оптимизировано для получения изображений низкого напряжения с невероятно высокой контрастностью поверхности и разрешением, присущим лишь более дорогим и громоздким моделям микроскопов данной классификации.

Agilent 8500 FE-SEM невероятно легок как в установке, так и в использовании. Кроме розетки, никакого специального оборудования не требуется. Данное устройство имеет размер лазерного принтера и гарантирует исследователям возможности, ранее доступные моделям этой серии лишь в специально оборудованных помещениях. 8500 FE-SEM был разработан для получения качественных и воспроизводимых результатов. К тому же, данная модель имеет низкую и привлекательную цену.

Расширенные возможности визуализации

8500 FE-SEM предлагает несколько способов  визуализации контраста поверхности и  позволяет увидеть наноразмерные особенности широкого круга наноструктурированных  объектов, таких как полимеры, тонкие пленки, биоматериалы и другие образцы и субстраты, чувствительные к излучению (даже стекло).

Бесступенчатая система визуализации регулируемого напряжения ( от 500 до 2000 вольт, настраиваемый параметр) устраняет необходимость как зарядки непроводящих объектов, так и покрытия их, что может скрыть наноразмерные особенности или привести к повышению давления, которое, в свою очередь, отрицательно повлияет на качество изображения.

Кроме того, данный микроскоп использует 4 сегмента микроканальных пластин детекторов, обеспечивающих топографические изображения по 2м ортогональным направлениям, что позволяет более детально отображать поверхность образца. Данная технология продемонстрировала четкое  определение  субнанометровых атомных ступеней на поверхности кристаллических веществ

Усовершенствованный дизайн

Внутри данного сканирующего электронного микроскопа  находится электронная колонна, которая производит, коллимирует, формирует, сканирует и фокусирует электронный пучок.  Традиционная электронная колонна основывается на комбинации выверенных электромагнитных и электростатических элементов, контролирующих электронный пучок. Катушки, формирующие  ключевые элементы, вручную встраиваются техниками для обеспечения единого магнитного поля. Кроме того, замкнутая система охлаждения и усовершенствованная система подавления вибраций, встроенные в устройство, позволяют управлять токами большой величины в линзах и других элементах, тем самым полностью раскрывая их потенциал. Сама по себе электронная колонна высокого разрешения является и дорогой и громоздкой.

Микротехнологии на основе кремния, позволили Agilent Technologies спроектировать и изготовить миниатюрную электростатическую электронную колонну, объединенную с эмиссионным электронным источником теплового поля. Дизайн 8500 FE-SEM предусматривает использование кремниевых стеков в изоляторах, формирующих линзы, проемы и отражатели электронной колонны. Запатентованная технология позволяет разместить пластину данных электронных колонн на 150 мм подложках. Колонны изготавливаются с точным диаметром диафрагмы и возможностью повторного выравнивания, что позволяет минимизировать отклонения, способные привести к ухудшению качества изображения.

Системный эмиссионный электронный источник теплового поля обуславливает высокую яркость, полную стабильность, компактный размер виртуального источника, низкие затраты энергии и высокую производительность. 4-хсегментная микроканальная пластина располагается прямо под объективом электронной колонны и строго над образцом. Данная пластина собирает отраженные и вторичные электроны. МКП может работать в двух режимах: стандартном или дифференциальном (топографическом).

Преимущества

Как было сказано выше, FE-SEM 8500 успешно воплощает в себе основную технологию сканирующего электронного микроскопа, а именно миниатюризацию. Данный микроскоп оптимизирован для получения изображений низкого напряжения и 10nm разрешения. Эмиссионный электронный источник теплового поля обеспечивает высокое отношение сигнал/шум и высокую производительность, а возможности обнаружения вторичных и отраженных электронов обуславливают получение огромного количества информации о каждом образце.

Кроме того, электростатические линзы микроскопа обуславливают возможность использования без постоянной перенастройки, необходимой традиционным микроскопам SEM серии, ввиду гистерезиса магнитных линз. Данная конструкция позволяет пользователям сохранять операционные настройки и незамедлительно возвращаться к ним при необходимости, что делает этот микроскоп идеальным выбором для многопользовательского применения.

Невероятная простота использования

FE-SEM 8500 не только имеет размер лазерного принтера, но и схожие с ним принципы установки и управления (plug-and-play), такие как размещение в практически любой лаборатории, имеющей розетку.

Подготовка и размещение образца производится просто и быстро. Столик, настраиваемый по XYZ осям, позволяет пользователям задавать необходимые координаты, сканировать и, затем сохранять месторасположения для проведения повторных экспериментов.  Для достижения оптимального контроля, системное программное обеспечение предлагает интуитивно понятную программу GUI (графический интерфейс пользователя), разработанную как для новичков, так и для опытных пользователей.

Невероятная гибкость применения данного микроскопа позволит в разы увеличить скорость исследований и разработки продукции. С моделью Agilent 8500 удобство использования и высокая производительность FE-SEM стали реальностью.

ECD картридж

Электронный источник, электронная колонна и электронный детектор FE-SEM 8500 объединены в один заменяемый ECD картридж. Когда долго работающий электронный источник истощается, весь ECD картридж может быть заменен на месте, обеспечивая 8500 не только новым источником электронов, но и новой электронной колонной и новой МКП. По сути, Вы получаете совершенно новый FE-SEM.

В отличие от традиционных моделей FE-SEM, электронный источник 8500 легко выключить и быстро включить для начала съемки. Продолжительность срока работы источника можно увеличить, отключая его, когда нет необходимости в использовании. Данный микроскоп имеет очень низкую и привлекательную цену.

Наномеханические системы Agilent Technologies

Agilent Technologies является лидирующей компанией в измерительных технологиях. Она предлагает высокоточные модульные наноизмерительные приспособления для решения различных задач в области исследований, промышленности, образования. Опытные сотрудники обеспечивают техническую поддержку оборудования по всему миру. Ведущие лаборатории Agilent гарантируют постоянное и своевременное внедрение и оптимизацию инновационных, легких в использовании технологий наномеханических систем.