Производители
Применение

| PV010Prevac PV010 - адаптируемая к требованиям заказчика многокамерная сверхвысоковакуумная система для исследования физических и химических свойств металлических поверхностей.

| PV014Адаптируемая к требованиям заказчика многокамерная сверхвысоковакуумная система для изготовления и исследования органических пленок (OLED).

| PV022Адаптируемая к требованиям заказчика многокамерная сверхвысоковакуумная система для анализа атомной и электронной структуры поверхности, исследования и приготовления сложных эпитаксиальных металлических или молекулярных пленок на различных поверхностях,

| PV042Система ARPES является адаптированной многокамерной сверхвысоковакуумной системой для исследования физических свойств высокотемпературных сверхпроводников – Университет Фудань, Китай.

| PV052Система PV052 предназначена для исследования термодинамики и кинетики фазовых превращений

| PV053Адаптируемая к требованиям заказчика многокамерная сверхвысоковакуумная система предназначена для исследования химических и физических свойств поверхностей материалов в твердом состоянии в широком диапазоне температур и давлений.

| PV063Сверхвысоковакуумная система предназначена для исследования свойств поверхностей образцов в контролируемых условиях. Система оснащена множеством дополнительных CF портов для установки измерительных и дополнительных вакуумных инструментов

| PV072Система предназначена для фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES). Состоит из подвижной рамы и четырех камер. Рама позволяет осуществлять точное позиционирование по всем трем осям. Каждая камера оснащена своей системой насосов за исклю

| PV075Система PV075 предназначена для инфракрасных измерений. Состоит из основной рамы, рамы для инфракрасного анализатора и трех камер с соответствующим оборудованием. Рама инфракрасного анализатора является независимым блоком и может быть легко отсоединена и

| PV080Многокамерная сверхвысоковакуумная система предназначена для подготовки тонких слоев и комплексного анализа поверхностей твердых образцов (кристаллографические и электронные структуры) методом сканирующей зондовой микроскопии (SPM, SPS) и другими методами

| PV090Данная многофункциональная система предназначена для точного и широкого анализа поверхностей материалов.

| PV092Данная многокамерная сверхвысоковакуумная система предназначена для исследования поверхностей твердых и порошкообразных образцов методами электронной спектроскопии.

| PV093Многофункциональная сверхвысоковакуумная система для следующих исследований: Взаимодействие электронов и фотонов с атомами, молекулами и кластерами от (сверхзвуковых) пересекающихся молекулярных пучков, изучение различных разрядов, взаимодействие ускорен

| PV097Многокамерная сверхвысоковакуумная система предназначена для исследования поверхностей твердых и порошкообразных образцов методами электронной спектроскопии

| PV128Магнетронная распылительная система PV128 предназначена для точного и воспроизводимого нанесения слоев тонких пленок. Она позволяет проводить бомбардировку с магнитных и немагнитных мишеней.

| STSКомпания Prevac разрабатывает специальные системы вакуумной откачки - от простых насосных систем до сложных управляемых компьютером. Системы включают в себя все необходимое оборудование, мониторы и программное обеспечение.

| XY_stageКоординатный стол XY – это точный, очень жесткий специальный сверхвысоковакуумный транслятор, имеющий движение по координатам X и Y. Стандартный крепежный фланец - DN 160CF (DN 100CF как опция). Транслятор может работать в любом положении (горизонтальное

| Prevac_UMSУниверсальный масс-спектрометр подходит как для научных исследований, так и для применения в промышленности.

| Analytical_ChambersКамеры для анализа

| Cleaver_ChambersКамеры для скола образцов

| Flow_Through_High_Pressure_ReactorsПроточные реакторы высокого давления

| Static_High_Pressure_ReactorsСтатичные реакторы высокого давления

| Infrared_ChambersКамеры для ИК измерений

| Linear_transfersЛинейные транспортеры держателей образцов

| Load_Lock_ChambersЗагрузочные камеры

| Preparation_ChambersКамеры для приготовления образцов

| Radial_Distribution_Chambers_(UFO)Камеры радиального распределения образцов (UFO)

| Reorientation_ChambersКамеры переориентации направления транспортировки держателей образцов

| Storage_ChambersКамеры хранения

| Transport_BoxesКамеры транспортировки

| PTS_STANDARD_sample_holderДержатель образцов PTS STANDARD

| PTS_POWDER_sample_holderДержатель образцов PTS POWDER

| PTS_BASE_CONTAINER_sample_holderДержатель образцов PTS BASE CONTAINER

| PTS_1000_RES_C_K_sample_holderДержатель образцов PTS 1000 RES/C-K

| PTS_CLEAV_RES_C_K_sample_holderДержатель образцов PTS CLEAV RES/C-K

| PTS_CLEAV_sample_holderДержатель образцов PTS CLEAV

| PTS_1000_IR_RES_C_K_sample_holderДержатель образцов PTS 1000 IR RES/C-K

| PTS_1000_OMC_RES_C_K_sample_holderДержатель образцов PTS 1000 OMC RES/C-K

| PTS_1400_OMC_EB_C_K_sample_holderДержатель образцов PTS 1400 OMC EB/C-K

| PTS_1200_RHK_EB_C_K_sample_holderДержатель образцов PTS 1200 RHK EB/C-K

| PTS_SPM_DIR_C_K_sample_holderДержатель образцов PTS SPM DIR/C-K

| PTS_SPM_CLEAV_sample_holderДержатель образцов PTS SPM CLEAV

| PTS_SPM_2000_EB_C_C_sample_holderДержатель образцов PTS SPM 2000 EB/C-C

| PTS_QUARTZ_sample_holderДержатель образцов PTS QUARTZ

| PTS_FARA_sample_holderДержатель образцов PTS FARA

| PTS_FARA_EXTRA_CAPABILITY_sample_holderДержатель образцов PTS FARA EXTRA CAPABILITY

| MINI_PTS_sample_holderДержатель образцов MINI PTS

| PTS_200_RES_sample_holderДержатель образцов PTS 200 RES

| X-ray_Source_40B1Рентгеновский источник 40B1

| UV_Source_40A2УФ источник 40A2

| Ion_Source_40E1Источник ионов 40E1

| Ion_Source_40C1Источник ионов 40C1

| Electron_Source_40C1Источник электронов ES 40C1

| Flood_Source_40A1Считывающий электронный прожектор 40A1

| Electron_beam_evaporator_EBV_40A1Электронно-лучевой испаритель EBV 40A1

| Effusion_Cell_EF_40C1Источник с эффузионным элементом EF 40C1

| Quartz_Balance_QO_40A1Кварцевые микровесы QO 40A1

| Thermal_Desorption_Spectrometer_TDS_40A1Термодесорбционные спектроскометры TDS 40A1

| Stepper_Motor_Shift_for_Z_SlideМеханизм перемещения с шаговым двигателем для слайдеров по оси Z

| Motorised_Rotation_Module_R2Моторизованный модуль вращения R2

| R1_axis_manipulatorМанипулятор вращения R1

| Standard_Linear_ShiftСтандартный механизм линейного перемещения

| High_Stability_Linear_ShiftМеханизм линейного перемещения с высокой стабильностью

| Rotary_Feedthrough_90Механизм вращения 90

| Rotary_Feedthrough_360Механизм вращения 360

| Linear_FeedthroughМеханизм линейного перемещения

| Differently_Pumped_Rotary_FeedthroughВводы вращения с дифференциальной откачкой

| Linear_Shift_with_TiltМеханизмы линейного смещения с наклоном

| Motorised_Third_Rotation_Module_R3Моторизованный модуль вращения R3

| Motorised_Rotation_Module_-_In_Line_SolutionМоторизованный модуль вращения

| Stepper_Motor_Shift_for_XY_StagesМеханизм перемещения с шаговым двигателем для XY-подиумов

| 2_axes_deposition_manipulatorДвухосевой манипулятор осаждения

| XYZ_ManipulatorXYZ манипулятор

| XYZ_Mini_ManipulatorXYZ мини манипулятор

| 4_axes_manipulatorМанипулятор с 4 осями

| 5_axes_LHe_Cryostat_Manipulator_closedМанипулятор с 5 осями и LHe криостатом (замкнутый цикл, 20K)

| 5_Axes_LHe_Cryostat_Manipulator_openМанипулятор с 5 осями и LHe криостатом открытый цикл, 4,8K)

| 5_Axes_ManipulatorМанипулятор с 5 осями

| 6_Axes_LHe_Cryostat_ManipulatorМанипулятор c 6 осями и LHe криостатом

| 6_Axes_ManipulatorМанипулятор c 6 осями

| Wobble_Stick_with_Rotating_TipWobble Stick с вращающейся головкой

| Wobble_Stick_with_Parallel_Mobile_TipWobble Stick с параллельной мобильной головкой

| Wobble_Stick_with_Gripping_and_Rotating_TipWobble Stick. Головка с функциями вращения и захвата

| Wobble_Stick_with_Gripping_ArmsWobble Stick с элементами захвата

| Wobble_Stick_with_CleaverWobbleStick с функцией скалывания

| Ion_Source_Power_Supply_IS40C-PSБлок питания IS40C-PS для источника ионов

| Bakeout_Control_Unit_BCU14Устройство управления отжигом BCU14

| Ion_Source_Power_Supply_IS40E-PSБлок питания IS40E-PS для источника ионов

| Titanium_Sublimation_Pump_Power_Supply_TSP02-PSБлок питания для титановых сублимационных насосов TSP02-PS

| Electron_Beam_Evaporator_Power_Supply_EBV40A-PSБлок питания для электронно-лучевого испарителя EBV40A-PS

| Electron_Source_Power_Supply_ES40C-PSБлок питания ES40C-PS для источников электронов

| Flood_Source_Power_Supply_FS40A-PSБлок питания FS40A-PS для считывающего электронного прожектора FS40A1

| X-Ray_Source_Electronics_XR40BБлок питания UV40A-PS для X-Ray источников

| UV_Source_Power_Supply_UV40A-PSБлок питания UV40A-PS для УФ источников

| Heating_Power_Supply_HEAT3-PSБлок питания для нагревания образцов HEAT3-PS

| Multi_Gauge_Controller_MG12Контроллер измерений MG12

| Ion_Multi_Gauge_Controller_MG13Контроллер измерений MG13 (Ion)

| Thickness_Monitors_Controller_TMC-13Контроллер толщины слоя TMC13

| Ion_Multi_Gauge_Controller_MG14Контроллер измерений MG14 (Ion)

| Thickness_Monitors_TM13_TM14Датчики толщины слоя TM13 и TM14

| Stepper_Motor_Control_Device_SMCD10Устройство управления шаговым двигателем SMCD10

| Stepper_Motor_Control_Device_SMCD20Устройство управления шаговым двигателем SMCD20

| Vacuum_Chamber_Highlight_VCH-10Система подсветки камер вакуумных систем VCH-10

| Rapid_Scientific_EnvironmentПрограммное обеспечение для построения рабочих процессов в лаборатории

| Recipe_EditorПрограммное обеспечение Recipe Editor

| Chart_2DТаблица данных 2D

| ION_Source_ControlУправление источником ионов

| Flood_Source_ControlПриложение для управления считывающим электронным прожектором

| X-Ray_Source_ControlПриложение для управления рентгеновским источником

| UV_Source_ControlПриложение для управления УФ источником

| Electron_Source_ControlПриложение для управления источником электронов

| Heating_Temperature_ControllerПриложение для управления нагревом и температурой

| Multi-Gauge_ControlПриложение для управления измерениями

| Electron_Beam_Evaporator_ControlПриложение для управления электронно-лучевым испарителем

| Residual_Gas_AnalyzerАнализатор остаточных газов

| Multiaxes_Manipulator_Control_ApplicationПриложение для управления многоосевым манипулятором

| Quartz_Balance_Control_ApplicationПриложение для контроля кварцевых микровесов

| Bakeout_ControlУстройство контроля отжига

| Heater_Power_Supply_ControlПриложение для управления нагреванием

| Titanium_Sublimation_Pump_(TSP)_ControlПриложения для контроля титановых сублимационных насосов

| Molecular_Beam_EpitaxyПриложение для МЛЭ

| Thermal_Desorption_SpectrometerТермодесорбционный спектрометр

| Bath_Cryostat_MagnoДанные криостаты с температурным диапазоном 1.2 - 4.2 K производятся с различными вариантами возможностей и диаметров горловин

| Bath_Cryostat_Magno-SpektroДанные криостаты с температурным диапазоном 1.2 - 4.2 K производятся с различными вариантами возможностей и диаметров горловин

| Bath_Cryostat_SpektroДанные криостаты с температурным диапазоном 1.2 - 4.2 K производятся с различными вариантами возможностей и диаметров горловин

| He-Bath-Cryostat-MagnoДанные криостаты с температурным диапазоном 1.2 - 4.2 K производятся с различными вариантами возможностей и диаметров горловин

| KONTI-Cryostat_REM_1Криостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для N2 (специальная трансферная трубка для бака с N2).

| KONTI-Cryostat_REM_2Криостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat_UHVКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-ElecКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-MikroКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-Mikro-6Криостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-MoessbauerКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-CryostatsКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-SpektroКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-Spektro_AКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-Spektro_AEКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-Spektro_AMКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-UHV-STMКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-Cryostat-UHV-STM_TКриостаты KONTI отличаются небольшим размером и компактностью, ввиду отсутствия необходимости в ванне для гелия (специальная трансферная трубка для бака с гелием).

| KONTI-IT-Cryostat_Magno-HeПроточные криостаты KONTI-IT с интегрированным бак для жидкого азота. Могут использоваться как криостаты с ванной или как испарители.

| KONTI-IT-Cryostat_Spektro-HeПроточные криостаты KONTI-IT с интегрированным бак для жидкого азота. Могут использоваться как криостаты с ванной или как испарители.

| KONTI-IT-Cryostat_Spektro-NПроточные криостаты KONTI-IT с интегрированным бак для жидкого азота. Могут использоваться как криостаты с ванной или как испарители.

| Temperature_Measurement_TIC-304_MAБлок управления температурными измерениями TIC 304-MA обеспечивает возможность проведения одновременных измерений с использованием двух различных датчиков.

| 8500-FE-SEMAgilent 8500 FE-SEM - универсальный компактный полевой эмиссионный электронный микроскоп широкого профиля для исследований в биологии и материаловедении

| 5500_AFMИсследовательский атомно-силовой микроскоп

| 5100_AFMУниверсальный атомно-силовой микроскоп модульного типа для ЦКП

| 5420_AFMНаучно-исследовательский атомно-силовой микроскоп, обеспечивающий атомарное разрешение

| 5600LS_AFMУниверсальный атомно-силовой микроскоп для исследования больших объектов

| BM-10Настольная антивибрационная платформа BM-10 обладает в 10-100 раз более высокой производительностью, чем воздушные платформы, обладая размером всего 310х310 мм в плоскости ХY и высотой 117 мм. Платформа работает без воздуха или электричества.

| BM-8Настольная антивибрационная платформа BM-8 обладает в 10-100 раз более высокой производительностью, чем воздушные платформы. Платформа работает без воздуха или электричества.

| MK-26Антивибрационный стол MinusK MK-26. Размер рабочей поверхности стола 77.4 - 81.25cm. Допустимый вес нагрузки до 400 кг. Компания Eurotek - поставщик систем MinusK.

| Reflectron_RFT10Наша стандартная модель RFT10 время пролётного масс-спектрометра является чрезвычайно универсальным инструментом, который используется в самых различных областях исследований

| Reflectron_RFT50Рефлектрон RFT50 c ионизацией электронным импульсом, ионный источник установлен на фланце с противоположной стороны крепежного фланца рефлектрона, второй детектор с 20 кВ пост-ускорения позади зеркала ионов

| Reflectron_CTF10Рефлектрон CTF10. Компактная угловая геометрия рефлектрона, двухступенчатое ионное зеркало, повышенная чувствительность, двухступенчатый MCP детектор, двухступенчатый ионный источник для лазерной ионизации

| Reflectron_CTF5Рефлектрон CTF5. Компактная угловая геометрия рефлектрона с двухступенчатым ионным зеркалом, ионизация электронным импульсом, 25 мм двухступенчатый MCP детектор с расширенным динамическим диапазоном

| Reflectron_ILR10Рефлектрон ILR10. Компактная угловая геометрия рефлектрона с двухступенчатым ионным зеркалом, область пространства свободного дрейфа 630 мм в длину, двухступенчатый MCP детектор, двухступенчатый ионный источник

| ETF11Электронный спектрометр ETF11. Минимальная мощность приблизительно 20 эВ (в зависимости от магнитного поля среды), разрешающая способность T/ΔT = 100, длина трубы свободного дрейфа 300 мм, µ-металлический экран

| ETF15Комбинированный электронный спектрометр ETF15. Биполярная система, минимальная мощность приблизительно 20 эВ , длина трубы свободного дрейфа 350 мм, µ-металлический экран

| ETF20Электронный спектрометр высокой мощности ETF20. Электронный спектрометр ETF20 оптимизирован для энергий электронов >1000 эВ. Максимальная мощность замедления - -2 кВ. Минимальная мощность прохождения электронов приблизительно равна 20 эВ

| OFT12Ортогональный экстракционный масс спектрометр OFT12. Общая длина - 900 мм, угол между входящими и исходящими ионными лучами - 8°, двухступенчатый ионный рефлектор, экстракционный модуль

| EBRУльтрасовременые системы электронно-лучевой литографии

| EitreНано литографические печатные системы для научно-исследовательских разработок

| SindreSindre® - Нано литографическая печатная система для производства

| Stamp_ManufacturingObducat обеспечивает высокое качество штампов, которые используются для печати в пределах от 50-нм до мкм.